DIN EN IEC 60749-30:2023-02
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 30: Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Bauelemente vor der Zuverlässigkeitsprüfung (IEC 60749-30:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60749-30:2020 / Hinweis: DIN EN 60749-30 (2011-12) bleibt bestehen...

Standard-Nr.
DIN EN IEC 60749-30:2023-02
Erscheinungsdatum
2023
Organisation
German Institute for Standardization
Letzte Version
DIN EN IEC 60749-30:2023-02

DIN EN IEC 60749-30:2023-02 Veröffentlichungsverlauf

  • 2023 DIN EN IEC 60749-30:2023-02 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 30: Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Bauelemente vor der Zuverlässigkeitsprüfung (IEC 60749-30:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60749-30:2020 / Hinweis: DIN EN 60749-30 (2011-12) bleibt bestehen...
  • 1970 DIN EN IEC 60749-30 E:2019-09 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 30: Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Bauelemente vor der Zuverlässigkeitsprüfung
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 30: Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Bauelemente vor der Zuverlässigkeitsprüfung (IEC 60749-30:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60749-30:2020 / Hinweis: DIN EN 60749-30 (2011-12) bleibt bestehen...



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