IEC 60122-1/AMD1:1983
Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen

Standard-Nr.
IEC 60122-1/AMD1:1983
Erscheinungsdatum
1983
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Zustand
 2017-12
ersetzt durch
IEC 60122-1:2002
Letzte Version
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017

IEC 60122-1/AMD1:1983 Veröffentlichungsverlauf

  • 2017 IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 Änderung 1 – Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • 2017 IEC 60122-1:2017 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation (Ausgabe 3.1; Konsolidierter Nachdruck)
  • 2002 IEC 60122-1:2002 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • 1983 IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen
  • 1976 IEC 60122-1:1976 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen

IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-3-1:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 3: Abschnittsspezifikation; Qualifikationsgenehmigung; Abschnitt 1: leere Bauartspezifikation.

IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-3:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 3: Abschnittsspezifikation; Qualifikationsgenehmigung.

IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-2-1:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 2: Abschnittsspezifikation; Fähigkeitsgenehmigung; Abschnitt 1: leere Bauartspezifikation.

IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-2:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 2: Abschnittsspezifikation; Fähigkeitsgenehmigung.

IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-1:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 1: Allgemeine Spezifikation.




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