IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-3-1:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 3: Abschnittsspezifikation; Qualifikationsgenehmigung; Abschnitt 1: leere Bauartspezifikation.
IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-3:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 3: Abschnittsspezifikation; Qualifikationsgenehmigung.
IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-2-1:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 2: Abschnittsspezifikation; Fähigkeitsgenehmigung; Abschnitt 1: leere Bauartspezifikation.
IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-2:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 2: Abschnittsspezifikation; Fähigkeitsgenehmigung.
IEC 60122-1/AMD1:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen ha sido cambiado a IEC 61178-1:1993 Quarzkristalleinheiten; eine Spezifikation im IEC-Qualitätsbewertungssystem für elektronische Komponenten (IECQ); Teil 1: Allgemeine Spezifikation.
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