LST EN IEC 60749-20:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Löthitze (IEC 60749-20:2020)

Standard-Nr.

LST EN IEC 60749-20:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Lithuanian Standards Office

Zustand

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LST EN 60749-20-2010:2010

Letzte Version

LST EN 60749-20-2010:2010

LST EN IEC 60749-20:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 LST EN IEC 60749-20:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Löthitze (IEC 60749-20:2020)
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