OVE EN IEC 60749-37:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 37: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser (IEC 47/2651/CDV) (englische Version)

Standard-Nr.

OVE EN IEC 60749-37:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

AT-OVE/ON

Letzte Version

OVE EN IEC 60749-37:2020

OVE EN IEC 60749-37:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 OVE EN IEC 60749-37:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 37: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser (IEC 47/2651/CDV) (englische Version)