PNS IEC 62373-1:2021
Halbleiterbauelemente – Bias-Temperatur-Stabilitätstest für Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET) – Teil 1: Schneller BTI-Test für MOSFET

Standard-Nr.

PNS IEC 62373-1:2021

Erscheinungsdatum

2021

Organisation

PH-BPS

Letzte Version

PNS IEC 62373-1:2021

PNS IEC 62373-1:2021 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 PNS IEC 62373-1:2021 Halbleiterbauelemente – Bias-Temperatur-Stabilitätstest für Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET) – Teil 1: Schneller BTI-Test für MOSFET