IEC 63185:2020
Messung der komplexen Permittivität für dielektrische Substrate mit geringem Verlust, Methode mit symmetrischem Kreisscheibenresonator

Standard-Nr.

IEC 63185:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 63185:2020

ersetzt durch

IEC 46F/523/FDIS:2020

IEC 63185:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 IEC 63185:2020 Messung der komplexen Permittivität für dielektrische Substrate mit geringem Verlust, Methode mit symmetrischem Kreisscheibenresonator