ISO 9220:1988
Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
- Standard-Nr.
- ISO 9220:1988
- Erscheinungsdatum
- 1988
- Organisation
- International Organization for Standardization (ISO)
- Zustand
- ersetzt durch
- ISO 9220:2022
- Letzte Version
- ISO 9220:2022
ISO 9220:1988 Veröffentlichungsverlauf
- 2022 ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
- 1988 ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
