BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015
Integrierte Schaltkreise. Messung elektromagnetischer Emissionen. Allgemeine Bedingungen und Definitionen. Datenaustauschformat für Nahfeldscans

Standard-Nr.

BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015

Erscheinungsdatum

2015

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

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BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Normative Verweisungen

• IEC 60050 Änderung 3 – Internationales Elektrotechnisches Vokabular (IEV) – Teil 904: Umweltnormung für elektrische und elektronische Produkte und Systeme*， 2019-10-17 Aktualisieren
• IEC 61967-1 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen – Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen*， 2018-12-12 Aktualisieren
• IEC 62132-1 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen*， 2015-10-29 Aktualisieren
• IEC TS 61967-3 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen – Teil 3: Messung abgestrahlter Emissionen – Oberflächenscanverfahren
• IEC TS 62132-9 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 9: Messung der Strahlungsimmunität – Oberflächenscanverfahren
• ISO 8879 Informationsverarbeitung - Text- und Bürosysteme - Standard Generalized Markup Language (SGML); Technische Berichtigung 2

BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Veröffentlichungsverlauf

• 2015 BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Integrierte Schaltkreise. Messung elektromagnetischer Emissionen. Allgemeine Bedingungen und Definitionen. Datenaustauschformat für Nahfeldscans
• 0000 BS PD IEC/TR 61967-1-1:2010