- Standard-Nr.
- SJ/T 2658.9-2015
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2015
- Organisation
- Professional Standard - Electron
- Letzte Version
-
SJ/T 2658.9-2015
- Ersetzen
-
SJ 2658.9-1986
SJ/T 2658.9-2015 Normative Verweisungen
- CIE 127-1997 Messung von LEDs
- GB/T 15651-1995 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte und integrierte Schaltkreise. Teil 5: Optoelektronische Geräte
- GB/T 2900.65-2004 Elektrotechnische Terminologie-Beleuchtung
- SJ/T 2658.1 Messverfahren für Halbleiter-Infrarot-emittierende Dioden. Teil 1: Allgemeines
- SJ/T 2658.8 Messverfahren für Halbleiter-Infrarotdioden. Teil 8: Strahlungsintensität
SJ/T 2658.9-2015 Veröffentlichungsverlauf
- 2015 SJ/T 2658.9-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarot-emittierende Dioden. Teil 9: Räumliche Verteilung der Strahlungsintensität und des Halbwertswinkels
- 1970 SJ 2658.9-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Messmethoden für die Intensitätsraumverteilung und den Halbwertswinkel der Strahlung
SJ/T 2658.9-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarot-emittierende Dioden. Teil 9: Räumliche Verteilung der Strahlungsintensität und des Halbwertswinkels ha sido cambiado a SJ 2658.9-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Messmethoden für die Intensitätsraumverteilung und den Halbwertswinkel der Strahlung.