BS PD ISO/TS 18507:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Einsatz der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie in der biologischen und Umweltanalyse
DIN 51003 Totalreflexions-Röntgenfluoreszenz – Prinzipien und Definitionen
ISO 14706:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
ISO 17331:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Chemische Methoden zur Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumwafer-Arbeitsreferenzmaterialien und deren Bestimmung durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
BS PD ISO/TS 18507:2015 Veröffentlichungsverlauf
2015BS PD ISO/TS 18507:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Einsatz der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie in der biologischen und Umweltanalyse