JIS C 60068-2-69:2019
Umwelttests – Teil 2-69: Tests – Test Te/Tc: Lötbarkeitstests von elektronischen Bauteilen und Leiterplatten mit der Methode der Benetzungsbalance (Kraftmessung).

Standard-Nr.

JIS C 60068-2-69:2019

Erscheinungsdatum

2019

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

JIS C 60068-2-69 AMD 1:2021

Letzte Version

JIS C 60068-2-69 AMD 1:2021

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JIS C 60068-2-69:2009 JIS C 60068-2-54:2009

JIS C 60068-2-69:2019 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 JIS C 60068-2-69 AMD 1:2021 Umwelttests – Teil 2-69: Tests – Test Te/Tc: Lötbarkeitstests von elektronischen Bauteilen und Leiterplatten mit der Methode der Benetzungsbalance (Kraftmessung) (Änderung 1)
• 2019 JIS C 60068-2-69:2019 Umwelttests – Teil 2-69: Tests – Test Te/Tc: Lötbarkeitstests von elektronischen Bauteilen und Leiterplatten mit der Methode der Benetzungsbalance (Kraftmessung).
• 2009 JIS C 60068-2-69:2009 Umwelttests – Teil 2-69: Tests – Test Te: Lötbarkeitstests elektronischer Komponenten für oberflächenmontierte Geräte (SMD) mit der Benetzungsbilanzmethode
• 1996 JIS C 60068-2-54:1996 Umwelttests Teil 2: Tests. Test Ta: Löten. Lötbarkeitsprüfung nach der Benetzungsbilanzmethode