JIS Z 4334:2019
Referenzquellen – Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren – Alpha-, Beta- und Photonenemitter

Standard-Nr.

JIS Z 4334:2019

Erscheinungsdatum

2019

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS Z 4334:2019

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JIS Z 4334:2005

JIS Z 4334:2019 Veröffentlichungsverlauf

• 2019 JIS Z 4334:2019 Referenzquellen – Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren – Alpha-, Beta- und Photonenemitter
• 2005 JIS Z 4334:2005 Referenzquellen für die Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren – Beta-Strahler (maximale Beta-Energie größer als 0,15 MeV) und Alpha-Strahler
• 1992 JIS Z 4334:1992 Referenzquellen für die Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren