GB/T 31958-2015
Substratglas für eine Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeigevorrichtung (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 31958-2015
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2015
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2024-03
- ersetzt durch
- GB/T 31958-2023
- Letzte Version
- GB/T 31958-2023
GB/T 31958-2015 Normative Verweisungen
- GB/T 16920-1997 Glas – Bestimmung des mittleren linearen Wärmeausdehnungskoeffizienten
- GB/T 2828.1-2012 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)
- GB/T 5432-2008 Prüfverfahren für die Dichte von Glas durch Auftrieb
- GB/T 5433-2008 Prüfverfahren für die Lichtdurchlässigkeit von Haushaltsglas
- SJ/T 10909 Bestimmung von K2O, Na2O und Li2O in elektronischem Glas – Flammenspektroskopie-Methode
- SJ/T 11039 Prüfverfahren für den Temperpunkt und den Spannungspunkt von elektronischem Glas
GB/T 31958-2015 Veröffentlichungsverlauf
- 2023 GB/T 31958-2023 Substratglas für amorphe Silizium-Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeigen
- 2015 GB/T 31958-2015 Substratglas für eine Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeigevorrichtung
