Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
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IEEE 1671.3-2017
IEEE 1671.3-2017 Veröffentlichungsverlauf
2017IEEE 1671.3-2017 Beschreibung der zu testenden Einheit (UUT) der Automatic Test Markup Language (ATML).
2007IEEE 1671.3-2007 Automatic Test Markup Language (ATML) für den Austausch automatischer Testinformationen über XML (eXtensible Markup Language): Austausch von UUT-Beschreibungsinformationen (Unit Under Test).