ISO 20411:2018
Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Korrekturmethode für die Sättigungsintensität in der dynamischen Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Einzelionenzählung

Standard-Nr.
ISO 20411:2018
Erscheinungsdatum
2018
Organisation
International Organization for Standardization (ISO)
Letzte Version
ISO 20411:2018

ISO 20411:2018 Normative Verweisungen

  • ISO 18115-1:2013 Chemische Oberflächenanalyse.Vokabular.Teil 1: Allgemeine Begriffe und Begriffe, die in der Spektroskopie verwendet werden
  • ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse.Vokabular.Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden

ISO 20411:2018 Veröffentlichungsverlauf

  • 2018 ISO 20411:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Korrekturmethode für die Sättigungsintensität in der dynamischen Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Einzelionenzählung
Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Korrekturmethode für die Sättigungsintensität in der dynamischen Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Einzelionenzählung



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