IEC 61340-4-1:2003/AMD1:2015
Prüfverfahren für elektrische Materialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und -baugruppen – Teil 2-721: Prüfverfahren für Materialien für Verbindungsstrukturen – Messung der relativen Permittivität und des Verlustfaktors für kupferkaschierte Laminate