GB/T 14862-1993
Methoden zum Testen des thermischen Widerstands zwischen Verbindung und Gehäuse von Gehäusen für integrierte Halbleiterschaltungen (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 14862-1993
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
1993
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version
GB/T 14862-1993

GB/T 14862-1993 Veröffentlichungsverlauf

  • 1993 GB/T 14862-1993 Methoden zum Testen des thermischen Widerstands zwischen Verbindung und Gehäuse von Gehäusen für integrierte Halbleiterschaltungen
Methoden zum Testen des thermischen Widerstands zwischen Verbindung und Gehäuse von Gehäusen für integrierte Halbleiterschaltungen



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