IEC 61189-5-503:2017
Prüfverfahren für elektrische Materialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen – Teil 5-503: Allgemeine Prüfverfahren für Materialien und Baugruppen – Prüfung von Leiterplatten mit leitfähigen anodischen Filamenten (CAF).