JIS K 0147-2:2017
Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden

Standard-Nr.

JIS K 0147-2:2017

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS K 0147-2:2017

JIS K 0147-2:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 JIS K 0147-2:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden