BS EN 60444-8:2017
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten

Standard-Nr.
BS EN 60444-8:2017
Erscheinungsdatum
2017
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
BS EN 60444-8:2017
Ersetzen
BS EN 60444-8:2003

BS EN 60444-8:2017 Normative Verweisungen

  • EN 60444-2 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk Teil 2: Phasenversatzmethode zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
  • EN 61837 Auf der Oberfläche montierte piezoelektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Standardumrisse und Anschlusskabelverbindungen – Teil 4: Umrisse von Hybridgehäusen
  • IEC 61837 Auf der Oberfläche montierte piezoelektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -wahl – Standardumrisse und Anschlusskabelverbindungen – Teil 4: Umrisse von Hybridgehäusen

BS EN 60444-8:2017 Veröffentlichungsverlauf

  • 2017 BS EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
  • 2003 BS EN 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten



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