BS ISO 19606:2017 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie Normen und Spezifikationen

BS ISO 19606:2017 Normative Verweisungen

ISO 11039 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
ISO 11775 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
ISO 11952 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen*， 2019-05-21 Aktualisieren
ISO 18115-2 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden*， 2021-12-21 Aktualisieren
ISO 25178-2 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Flächenhaft – Teil 2: Begriffe, Definitionen und Oberflächentexturparameter*， 2021-12-20 Aktualisieren
ISO 25178-3 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 3: Spezifikationsoperatoren
ISO 4287 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Begriffe, Definitionen und Oberflächentexturparameter; Technische Berichtigung 2
ISO 4288 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode - Regeln und Verfahren zur Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit; Technische Berichtigung 1

2017 BS ISO 19606:2017 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie