KS C IEC 60444-8:2016
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten

Standard-Nr.

KS C IEC 60444-8:2016

Erscheinungsdatum

2016

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2021-01

ersetzt durch

KS C IEC 60444-8-2021

Letzte Version

KS C IEC 60444-8-2021

KS C IEC 60444-8:2016 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C IEC 60444-8-2021 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
• 2016 KS C IEC 60444-8:2016 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten