BS EN 60749-44:2016
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Mit Neutronenstrahlen bestrahltes Single-Event-Effect-Testverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente

Standard-Nr.
BS EN 60749-44:2016
Erscheinungsdatum
2016
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
BS EN 60749-44:2016

BS EN 60749-44:2016 Normative Verweisungen

  • IEC 62396-4 Prozessmanagement für Avionik – Atmosphärische Strahlungseffekte – Teil 4: Entwurf von Hochspannungs-Flugzeugelektronik zur Bewältigung potenzieller Einzelereigniseffekte
  • IEC 62396-5 Prozessmanagement für Avionikgeräte – Auswirkungen atmosphärischer Strahlung – Teil 5: Bewertung thermischer Neutronenflüsse und Einzelereigniseffekte in Avioniksystemen

BS EN 60749-44:2016 Veröffentlichungsverlauf

  • 2016 BS EN 60749-44:2016 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Mit Neutronenstrahlen bestrahltes Single-Event-Effect-Testverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Mit Neutronenstrahlen bestrahltes Single-Event-Effect-Testverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente



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