BS ISO 16700:2016
Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- Standard-Nr.
- BS ISO 16700:2016
- Erscheinungsdatum
- 2016
- Organisation
- British Standards Institution (BSI)
- Letzte Version
- BS ISO 16700:2016
- Ersetzen
- BS ISO 16700:2004
BS ISO 16700:2016 Normative Verweisungen
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- ISO Guide 30 Referenzmaterialien – Ausgewählte Begriffe und Definitionen
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- ISO Guide 35 Zertifizierung von Referenzmaterialien – Allgemeine und statistische Grundsätze*， 2017-08-21 Aktualisieren
- ISO/IEC 17025:2005 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien
- ISO/IEC Guide 98-3 Messunsicherheit – Leitfaden zum Ausdruck der Messunsicherheit (GUM:1995). Erweiterung auf beliebig viele Ausgabemengen
BS ISO 16700:2016 Veröffentlichungsverlauf
- 2016 BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- 2004 BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
