GB/T 13387-1992
Testverfahren zur Messung der flachen Länge an Scheiben aus elektronischen Materialien (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 13387-1992
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 1992
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2010-06
- ersetzt durch
- GB/T 13387-2009
- Letzte Version
- GB/T 13387-2009
GB/T 13387-1992 Veröffentlichungsverlauf
- 2009 GB/T 13387-2009 Testverfahren zur Messung flacher Wafer aus Silizium und anderen elektronischen Materialien
- 1992 GB/T 13387-1992 Testverfahren zur Messung der flachen Länge an Scheiben aus elektronischen Materialien
