GB/T 32495-2016
Chemische Oberflächenanalyse.Sekundärionen-Massenspektrometrie.Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 32495-2016

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2016

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Letzte Version

GB/T 32495-2016

GB/T 32495-2016 Normative Verweisungen

• GB/T 20176-2006 Chemische Oberflächenanalyse.Sekundärionen-Massenspektrometrie.Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien
• GB/T 22461-2008 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz
• GB/T 25186-2010 Chemische Oberflächenanalyse.Sekundärionen-Massenspektrometrie.Bestimmung relativer Empfindlichkeitsfaktoren aus ionenimplantierten Referenzmaterialien
• ISO 18115-1 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 1: Allgemeine Begriffe und Begriffe, die in der Spektroskopie verwendet werden*， 2023-06-01 Aktualisieren

GB/T 32495-2016 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 GB/T 32495-2016 Chemische Oberflächenanalyse.Sekundärionen-Massenspektrometrie.Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium