YD/T 1766-2016 Ausfallkriterien für den Zuverlässigkeitstest des integrierten Moduls des optischen Transceivers für die optische Kommunikation (Englische Version)
2016YD/T 1766-2016 Ausfallkriterien für den Zuverlässigkeitstest des integrierten Moduls des optischen Transceivers für die optische Kommunikation
2008YD/T 1766-2008 Ausfallkriterien von Zuverlässigkeitstests für optische Transceiver/Transponder, die in der optischen Kommunikation verwendet werden