GB/T 32188-2015
Testverfahren für die volle Breite bei halbem Maximum der Doppelkristall-Röntgenschaukelkurve eines GaN-Einkristallsubstrats (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 32188-2015
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2015
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Letzte Version
- GB/T 32188-2015
GB/T 32188-2015 Normative Verweisungen
- GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
GB/T 32188-2015 Veröffentlichungsverlauf
- 2015 GB/T 32188-2015 Testverfahren für die volle Breite bei halbem Maximum der Doppelkristall-Röntgenschaukelkurve eines GaN-Einkristallsubstrats
