TIS 1765-1999
Anionische und nichtionische oberflächenaktive Mittel.Bestimmung der kritischen Mizellisierungskonzentration.Methode durch Messung der Oberflächenspannung mit einer Platte, einem Bügel oder einem Ring

Standard-Nr.

TIS 1765-1999

Erscheinungsdatum

2001

Organisation

TH-TISI

Letzte Version

TIS 1765-1999

TIS 1765-1999 Veröffentlichungsverlauf

• 2001 TIS 1765-1999 Anionische und nichtionische oberflächenaktive Mittel.Bestimmung der kritischen Mizellisierungskonzentration.Methode durch Messung der Oberflächenspannung mit einer Platte, einem Bügel oder einem Ring