BS ISO 13083:2015
Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von elektrischen Rastersondenmikroskopen (ESPMs) wie SSRM und SCM für die 2D-Dotierstoff-Bildgebung und andere Zwecke

Standard-Nr.
BS ISO 13083:2015
Erscheinungsdatum
2015
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
BS ISO 13083:2015

BS ISO 13083:2015 Normative Verweisungen

  • ISO 18115-2 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden*2021-12-21 Aktualisieren
  • ISO 18516 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der lateralen Auflösung und Schärfe in strahlbasierten Methoden im Bereich von Nanometern bis Mikrometern*2019-01-14 Aktualisieren

BS ISO 13083:2015 Veröffentlichungsverlauf

  • 2015 BS ISO 13083:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von elektrischen Rastersondenmikroskopen (ESPMs) wie SSRM und SCM für die 2D-Dotierstoff-Bildgebung und andere Zwecke
Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von elektrischen Rastersondenmikroskopen (ESPMs) wie SSRM und SCM für die 2D-Dotierstoff-Bildgebung und andere Zwecke



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