YS/T 15-2015
Bestimmung der Dicke der Silizium-Epitaxieschicht und der Diffusionsschicht durch Schleifwinkel-Färbeverfahren (Englische Version)

Standard-Nr.

YS/T 15-2015

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2015

Organisation

Professional Standard - Non-ferrous Metal

Letzte Version

YS/T 15-2015

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YS/T 15-1991

YS/T 15-2015 Veröffentlichungsverlauf

• 2015 YS/T 15-2015 Bestimmung der Dicke der Silizium-Epitaxieschicht und der Diffusionsschicht durch Schleifwinkel-Färbeverfahren
• 1991 YS/T 15-1991 Bestimmung der Silizium-Epitaxieschicht und der Diffusionsdicke durch Schleifwinkel-Färbemethode