SJ/T 11487-2015
Berührungsloses Messverfahren für den spezifischen Widerstand halbisolierender Halbleiterwafer (Englische Version)

Standard-Nr.

SJ/T 11487-2015

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2015

Organisation

Professional Standard - Electron

Letzte Version

SJ/T 11487-2015

SJ/T 11487-2015 Veröffentlichungsverlauf

• 2015 SJ/T 11487-2015 Berührungsloses Messverfahren für den spezifischen Widerstand halbisolierender Halbleiterwafer