KS C IEC 62276:2007
Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden

Standard-Nr.

KS C IEC 62276:2007

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

KS C IEC 62276:2019

Letzte Version

KS C IEC 62276:2019

KS C IEC 62276:2007 Veröffentlichungsverlauf

• 2019 KS C IEC 62276:2019 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
• 2007 KS C IEC 62276:2007 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden