KS C IEC 60749-9:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 9: Dauerhaftigkeit der Markierung
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KS C IEC 60749-9:2003
Standard-Nr.
KS C IEC 60749-9:2003
Erscheinungsdatum
2003
Organisation
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Zustand
zurückziehen
ersetzt durch
KS C IEC 60749-9:2020
Letzte Version
KS C IEC 60749-9:2020
KS C IEC 60749-9:2003 Veröffentlichungsverlauf
2020
KS C IEC 60749-9:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 9: Dauerhaftigkeit der Markierung
2003
KS C IEC 60749-9:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 9: Dauerhaftigkeit der Markierung
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