KS C IEC 60749-8:2006
Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 8: Versiegelung

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-8:2006

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

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ersetzt durch

KS C IEC 60749-8-2006(2016)

Letzte Version

KS C IEC 60749-8-2021

KS C IEC 60749-8:2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C IEC 60749-8-2021 Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 8: Versiegelung
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