KS C 6049-1980
Umwelttestmethoden und Dauertestmethoden für integrierte Halbleiterschaltkreise

Standard-Nr.

KS C 6049-1980

Erscheinungsdatum

1980

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2020-01

ersetzt durch

KS C 6049-2020

Letzte Version

KS C 6049-2020

KS C 6049-1980 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 KS C 6049-2020 Umwelttestmethoden und Dauertestmethoden für integrierte Halbleiterschaltkreise
• 1980 KS C 6049-1980 Umwelttestmethoden und Dauertestmethoden für integrierte Halbleiterschaltkreise