KS C 6521-2008
Bewertungsmethode für die Beschichtung von Komponenten von Halbleiter- und LCD-Prozessen

Standard-Nr.

KS C 6521-2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

KS C 6521-2019

Letzte Version

KS C 6521-2021

KS C 6521-2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C 6521-2021 Bewertungsmethode für die Beschichtung von Komponenten von Halbleiter- und LCD-Prozessen
• 2019 KS C 6521-2019 Bewertungsmethode für die Beschichtung von Komponenten von Halbleiter- und LCD-Prozessen
• 2008 KS C 6521-2008 Bewertungsmethode für die Beschichtung von Komponenten von Halbleiter- und LCD-Prozessen