BS PD IEC/TS 62132-9:2014
Integrierte Schaltkreise. Messung der elektromagnetischen Immunität. Messung der Strahlungsimmunität. Oberflächenscan-Methode

Standard-Nr.

BS PD IEC/TS 62132-9:2014

Erscheinungsdatum

2014

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

BS PD IEC/TS 62132-9:2014

BS PD IEC/TS 62132-9:2014 Normative Verweisungen

• IEC 60050 Änderung 3 – Internationales Elektrotechnisches Vokabular (IEV) – Teil 904: Umweltnormung für elektrische und elektronische Produkte und Systeme*， 2019-10-17 Aktualisieren
• IEC 61967-6 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz – Teil 6: Messung leitungsgebundener Emissionen – Magnetsondenverfahren*， 2024-03-31 Aktualisieren
• IEC 62132-1 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen*， 2015-10-29 Aktualisieren
• IEC TR 61967-1-1 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen – Teil 1-1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen – Datenaustauschformat für Nahfeldscans*， 2015-08-28 Aktualisieren
• IEC TS 61967-3 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen – Teil 3: Messung abgestrahlter Emissionen – Oberflächenscanverfahren

BS PD IEC/TS 62132-9:2014 Veröffentlichungsverlauf

• 2014 BS PD IEC/TS 62132-9:2014 Integrierte Schaltkreise. Messung der elektromagnetischen Immunität. Messung der Strahlungsimmunität. Oberflächenscan-Methode