BS ISO 13095:2014
Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird

Standard-Nr.
BS ISO 13095:2014
Erscheinungsdatum
2014
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
BS ISO 13095:2014

BS ISO 13095:2014 Normative Verweisungen

  • ISO 11039 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
  • ISO 11952 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen*2019-05-21 Aktualisieren
  • ISO 18115-2:2010 Analysieren chemischer Oberflächen – Vokabeln – Teil 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Erstausgabe)
  • ISO/TS 80004-4:2011 Nanotechnologien - Vokabeln - Teil 4: Nanostrukturierte Materialien

BS ISO 13095:2014 Veröffentlichungsverlauf

  • 2014 BS ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird



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