GB/T 30868-2014
Testmethode zur Messung der Mikroröhrendichte von monokristallinen Siliziumkarbid-Wafern. Chemisches Ätzen (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 30868-2014

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2014

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Letzte Version

GB/T 30868-2014

GB/T 30868-2014 Normative Verweisungen

• GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen

GB/T 30868-2014 Veröffentlichungsverlauf

• 2014 GB/T 30868-2014 Testmethode zur Messung der Mikroröhrendichte von monokristallinen Siliziumkarbid-Wafern. Chemisches Ätzen