GB/T 30867-2014
Testverfahren zur Messung der Dicke und der Gesamtdickenschwankung von monokristallinen Siliziumkarbid-Wafern (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 30867-2014

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2014

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Letzte Version

GB/T 30867-2014

GB/T 30867-2014 Normative Verweisungen

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GB/T 30867-2014 Veröffentlichungsverlauf

• 2014 GB/T 30867-2014 Testverfahren zur Messung der Dicke und der Gesamtdickenschwankung von monokristallinen Siliziumkarbid-Wafern