JIS C 6760:2014
Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden

Standard-Nr.

JIS C 6760:2014

Erscheinungsdatum

2014

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS C 6760:2014

JIS C 6760:2014 Normative Verweisungen

• JIS C 6704:2009 Synthetischer Quarzkristall
• JIS Z 9015-1 Probenahmeverfahren für die Prüfung nach Merkmalen – Teil 1: Stichprobenpläne, indexiert durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL) für die Prüfung von Charge zu Charge

JIS C 6760:2014 Veröffentlichungsverlauf

• 2014 JIS C 6760:2014 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden