KS C IEC 60749-3:2002
Diskrete Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 3: Äußere visuelle Prüfung

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-3:2002

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

KS C IEC 60749-3:2019

Letzte Version

KS C IEC 60749-3:2021

KS C IEC 60749-3:2002 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C IEC 60749-3:2021 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 3: Äußere visuelle Prüfung
• 2019 KS C IEC 60749-3:2019 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 3: Äußere visuelle Prüfung
• 2002 KS C IEC 60749-3:2002 Diskrete Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 3: Äußere visuelle Prüfung