KS C IEC 60749-11:2002
Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 11: Schnelle Temperaturänderung – Zwei-Flüssigkeits-Bad-Methode

Standard-Nr.
KS C IEC 60749-11:2002
Erscheinungsdatum
2002
Organisation
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Zustand
ersetzt durch
KS C IEC 60749-11:2020
Letzte Version
KS C IEC 60749-11:2020

KS C IEC 60749-11:2002 Veröffentlichungsverlauf

  • 2020 KS C IEC 60749-11:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 11: Schnelle Temperaturänderung – Zweiflüssigkeitsbadverfahren
  • 2002 KS C IEC 60749-11:2002 Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 11: Schnelle Temperaturänderung – Zwei-Flüssigkeits-Bad-Methode



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