IEC 60191-4:2013
Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Formen von Gehäuseumrissen für Gehäuse von Halbleiterbauelementen

Standard-Nr.

IEC 60191-4:2013

Erscheinungsdatum

2013

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

IEC 60191-4:2018

Letzte Version

IEC 60191-4:2013/AMD1:2018

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IEC 47D/837/FDIS:2013 IEC 60191-4:1999 IEC 60191-4 AMD 1:2001 IEC 60191-4 AMD 2:2002 IEC 60191-4 Edition 2.2:2002

IEC 60191-4:2013 Veröffentlichungsverlauf

• 2018 IEC 60191-4:2013/AMD1:2018 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Gehäuseformen für Gehäuse von Halbleiterbauelementen; Änderung 1
• 2018 IEC 60191-4:2018 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Formen von Gehäuseumrissen für Gehäuse von Halbleiterbauelementen
• 2013 IEC 60191-4:2013 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Formen von Gehäuseumrissen für Gehäuse von Halbleiterbauelementen
• 2002 IEC 60191-4/AMD2:2002 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Gehäuseformen für Gehäuse von Halbleiterbauelementen; Änderung 2
• 2002 IEC 60191-4:2002 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Formen von Gehäuseumrissen für Gehäuse von Halbleiterbauelementen
• 2001 IEC 60191-4/AMD1:2001 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Gehäuseformen für Gehäuse von Halbleiterbauelementen; Änderung 1
• 1999 IEC 60191-4:1999 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Formen von Gehäuseumrissen für Gehäuse von Halbleiterbauelementen
• 1987 IEC 60191-4:1987 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen. Teil 4: Kodierungssystem und Klassifizierung in Formen von Gehäuseumrissen für Halbleiterbauelemente