JIS C 61000-4-20:2014
Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-20: Prüf- und Messtechniken – Emissions- und Immunitätsprüfung in transversalen elektromagnetischen (TEM) Wellenleitern

Standard-Nr.

JIS C 61000-4-20:2014

Erscheinungsdatum

2014

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS C 61000-4-20:2014

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JIS C 61000-4-20:2006

JIS C 61000-4-20:2014 Normative Verweisungen

• CISPR 16-1-1 Spezifikation für Funkstörungs- und Immunitätsmessgeräte und -methoden – Teil 1-1: Funkstörungs- und Immunitätsmessgeräte – Messgeräte*， 2019-05-22 Aktualisieren
• CISPR 16-1-4 Änderung 2 – Spezifikation für Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Teil 1-4: Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Antennen und Teststandorte für abgestrahlte Störungen*， 2023-04-13 Aktualisieren
• CISPR 16-2-3-2006 Spezifikation für Geräte und Methoden zur Messung von Funkstörungen und Störfestigkeit – Teil 2-3: Methoden zur Messung von Störungen und Störfestigkeit – Messungen abgestrahlter Störungen
• CISPR 22 Interpretationsblatt 3 – Geräte der Informationstechnik – Funkstörungseigenschaften – Grenzwerte und Messmethoden
• JIS C 61000-4-3 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-3: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Störfestigkeit gegenüber abgestrahlten, hochfrequenten und elektromagnetischen Feldern*， 2022-11-21 Aktualisieren

JIS C 61000-4-20:2014 Veröffentlichungsverlauf

• 2014 JIS C 61000-4-20:2014 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-20: Prüf- und Messtechniken – Emissions- und Immunitätsprüfung in transversalen elektromagnetischen (TEM) Wellenleitern
• 2006 JIS C 61000-4-20:2006 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-20: Prüf- und Messtechniken – Emissions- und Immunitätsprüfung in transversalen elektromagnetischen (TEM) Wellenleitern