YS/T 893-2013
Hochreines Sputter-Titan-Target für den Einsatz in elektronischen Filmen (Englische Version)

Standard-Nr.
YS/T 893-2013
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2013
Organisation
Professional Standard - Non-ferrous Metal
Letzte Version
YS/T 893-2013

YS/T 893-2013 Normative Verweisungen

  • GB/T 1031 Geometrische Produktspezifikationen (GPS).Oberflächentextur:Profilmethode.Oberflächenrauheitsparameter und ihre Werte
  • GB/T 4698.14 Methoden zur chemischen Analyse von Titanschwamm, Titan und Titanlegierungen. Bestimmung des Kohlenstoffgehalts
  • GB/T 4698.15 Methoden zur chemischen Analyse von Titanschwamm, Titan und Titanlegierungen.Bestimmung des Wasserstoffgehalts
  • GB/T 4698.7 Methoden zur chemischen Analyse von Titanschwamm, Titan und Titanlegierungen. Bestimmung des Sauerstoff- und Stickstoffgehalts
  • GB/T 6394 Bestimmung zur Schätzung der durchschnittlichen Korngröße von Metall*2017-02-28 Aktualisieren
  • GJB 1580A Ultraschallprüfung von verformtem Metall*2019-12-08 Aktualisieren
  • YS/T 837 Standardpraxis für die Ultraschall-C-Scan-Verbindungsbewertung von Sputtertarget-Trägerplattenbaugruppen
  • YS/T 891 Methoden zur chemischen Analyse von hochreinem Titan. Bestimmung des Gehalts an Spurenverunreinigungselementen. Glimmentladungs-Massenspektrometrie
  • YS/T 892 Methoden zur chemischen Analyse von hochreinem Titan. Bestimmung des Gehalts an Spurenverunreinigungselementen. Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

YS/T 893-2013 Veröffentlichungsverlauf

  • 2013 YS/T 893-2013 Hochreines Sputter-Titan-Target für den Einsatz in elektronischen Filmen
Hochreines Sputter-Titan-Target für den Einsatz in elektronischen Filmen



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