IEC 62860:2013
Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien

Standard-Nr.
IEC 62860:2013
Erscheinungsdatum
2013
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version
IEC 62860:2013
Ersetzen
IEC 113/184/FDIS:2013

IEC 62860:2013 Veröffentlichungsverlauf

  • 2013 IEC 62860:2013 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien
Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien



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