JIS B 7440-2:2013
Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Abnahme- und Nachprüfungen für Koordinatenmessgeräte (KMG) – Teil 2: KMGs zur Messung linearer Abmessungen

Standard-Nr.

JIS B 7440-2:2013

Erscheinungsdatum

2013

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS B 7440-2:2013

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JIS B 7440-2:2003

JIS B 7440-2:2013 Normative Verweisungen

• ISO/IEC Guide 99 
• ISO/TS 23165:2006 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Richtlinien für die Bewertung der Testunsicherheit von Koordinatenmessgeräten (KMG).
• JIS B 0641-1 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Inspektion von Werkstücken und Messgeräten durch Messung – Teil 1: Entscheidungsregeln zum Nachweis der Konformität oder Nichtkonformität mit Spezifikationen
• JIS B 0672-1 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Geometrische Merkmale – Teil 1: Allgemeine Begriffe und Definitionen
• JIS B 7440-1 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Abnahme- und Überprüfungstests für Koordinatenmessgeräte (KMG) – Teil 1: Wortschatz
• JIS B 7440-5 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Abnahme- und Überprüfungsprüfungen für Koordinatenmesssysteme (CMS) – Teil 5: Koordinatenmessgeräte (KMGs) mit Einzel- und Mehrfachtastsystemen unter Verwendung diskreter Punkte und/oder*， 2022-03-22 Aktualisieren

JIS B 7440-2:2013 Veröffentlichungsverlauf

• 2013 JIS B 7440-2:2013 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Abnahme- und Nachprüfungen für Koordinatenmessgeräte (KMG) – Teil 2: KMGs zur Messung linearer Abmessungen
• 2003 JIS B 7440-2:2003 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Abnahme- und Überprüfungstests für Koordinatenmessgeräte (KMG) – Teil 2: KMGs zur Größenmessung
• 1997 JIS B 7440-2:1997 Koordinatenmesstechnik – Teil 2: Leistungsbewertung von Koordinatenmessgeräten
• 1987 JIS B 7440:1987 Testcode für die Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten