ISO 16531:2013
Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
- Standard-Nr.
- ISO 16531:2013
- Erscheinungsdatum
- 2013
- Organisation
- International Organization for Standardization (ISO)
- Zustand
- ersetzt durch
- ISO 16531:2020
- Letzte Version
- ISO 16531:2020
ISO 16531:2013 Normative Verweisungen
- ISO 18115-1 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 1: Allgemeine Begriffe und Begriffe, die in der Spektroskopie verwendet werden*， 2023-06-01 Aktualisieren
ISO 16531:2013 Veröffentlichungsverlauf
- 2020 ISO 16531:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
- 2013 ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
